Workshop 'Caracterización superficial de materiales a nivel nanométrico'

El martes 30 de junio, se celebrará en las instalaciones del Servicio de Microscopía del CITIUS el Workshop “Caracterización superficial de materiales a nivel nanométrico”. Este encuentro se centra en las posibilidades de los microscopios Confocal/Interferométrico Sensofar S-Neox (le adjunto un pequeño folleto con las posibilidades del equipo), y AFM/STM de los que se dispone en el Servicio.
 
Este workshop es completamente gratuito y, si desea asistir, simplemente ha de inscribirse en el enlace que encontrará más abajo.
Si tienen alguna consulta o duda, sobre el Workshop o sobre estos equipos, por favor, contacte con la Técnico del Servicio Consuelo Cerrillos (ccerrillos@us.es).