Curso de Microscopía Electrónica en el CITIUS

El Servicio de Microscopía de la Universidad de Sevilla (CITIUS) va a impartir el siguiente curso:

TÉCNICAS DE CARACTERIZACIÓN SUPERFICIAL NANOMÉTRICAS (AFM, STM Y FESEM). CAPACITACIÓN EN EL MANEJO DE LOS MICROSCOPIOS PICOPLUS 2500 E HITACHI S5200.   (3 CRÉDITOS ECTS)

Su objetivo es formar a los alumnos, tanto a nivel teórico como práctico, en el uso de técnicas de microscopía para el estudio de materiales a escala nanométrica. Se pretende que, al finalizar el curso, los alumnos sean capaces de manejar de modo autónomo tanto el microscopio de alta resolución FESEM Hitachi S5200, como el microscopio AFM/STM Molecular Imaging PicoPlus 2500.

El curso es eminentemente práctico, por lo que contiene un total de 20 horas de uso de los microscopios.

Preinscripción y Matrícula: 01/05/2015 al 20/05/2015
Impartición: 15/06/2015 al 26/06/2015
PRECIO: 180 € (tasas incluidas)
NÚMERO DE CRÉDITOS: 3.00 ECTS
LUGAR DE IMPARTICIÓN: Servicio de Microscopía - CITIUS (Avda. Reina Mercedes 4b, 41012 Sevilla)

Para más información, por favor, consulte la siguiente dirección:
http://www.cfp.us.es/cursos/fc/tecnicas-de-caracterizacion-superficial-nanometricas-afm-stm-y-fesem-capacitacion-en-el-manejo-de-los-microscopios-picoplus-2500-e-hitachi-s5200/2704/